PRODUCT CENTER
产品中心
XTDIC三维全场应变测量分析系统
新拓三维XTDIC采用高精度的数字图像相关算法，为试验者提供非接触式动态全场三维应变及位移测量。
关键词
XTDIC三维全场应变测量分析系统
所属分类
产品详情
新拓三维XTDIC采用高精度的数字图像相关算法，为试验者提供非接触式动态全场三维应变及位移测量。
DIC技术在室内室外的普通环境均可使用，应变测量范围从0.005%-2000%以上，配合不同的图像采集硬件，测量对象尺寸可以从 几mm2 - 几十m2 ，更大测量幅面也可定制，理论上在此测量范围内只要能获取高质量的图像，即可进行精确的应变与变形测量。
XTDIC三维全场应变测量分析系统可与双目体视显微镜技术结合，实现微小物体变形过程中表面的三维坐标、位移场及 应变场的测量。
DIC原理
数字图像相关法(Digital Image Correlation，DIC)是一种测量物体表面应变和变形的方法。该方法跟踪物体表面散斑图案的变形 过程，计算散斑域的灰度值的变化，从而得到被测物表面的变形和应变数据。根据获取散斑图像的方式和计算结果的不同，数字图 像相关法也分为二维DIC和三维DIC。
测试流程
系统优势
• 非接触测量
• 直接测量全场应变、位移、变形、形貌
• 相关图像数据可反复分析处理，以实现不同研究
• 目的，无须重复试验，节约经济和时间成本
• 直接测量全场振幅、振动信息
• 可用于实时监测
• 试验过程可追溯、可评估
上一条
上一条
官方二维码
